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  • 透射电镜(TEM)

    低温透射电子显微镜Cryo-TEM涉及进行透射电子显微镜TEM分析,同时将样品保持在低温温度,即-170℃(或103 K)。 透射电子显微镜(TEM) 是一种使用电子束对样品进行成像的技术。 高能电子 (80-200 keV) 穿过电子透明样品(~100 nm 厚)并在平面上成像。 使用低温的主要原因是: 对薄的冷冻悬浮液切片的研究,允许对处于分散状态的颗粒进行形态学研究。 通过电子束减少样品加热,从

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